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  • HTZK-IV真空開(kāi)關(guān)真空度測(cè)試儀
    HTZK-IV真空開(kāi)關(guān)真空度測(cè)試儀
    真空斷路器是判斷真空管真空度劣化與否的常用方法是工頻耐壓法，這種方法只是能判斷真空度嚴(yán)重劣化的滅弧室。而當(dāng)真空度劣化到10-1-10-1 Pa時(shí)，雖然擊穿電壓沒(méi)有降低，但滅弧室已不合格。HTZK-IV型真空開(kāi)關(guān)真空度測(cè)試儀采用新型勵(lì)磁線圈，運(yùn)用磁控放電法測(cè)試滅弧室的真空度，不必拆卸滅弧室。同時(shí)采用微機(jī)進(jìn)行同步控制與數(shù)據(jù)采集處理，使滅弧室真空度的現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試靈敏度達(dá)到了10-5Pa。本儀器Z突出的特點(diǎn)是

    更新時(shí)間：2024-05-09

  • GYZKZ-V真空開(kāi)關(guān)真空度測(cè)試儀
    GYZKZ-V真空開(kāi)關(guān)真空度測(cè)試儀
    真空斷路器是判斷真空管真空度劣化與否的常用方法是工頻耐壓法，這種方法只是能判斷真空度嚴(yán)重劣化的滅弧室。而當(dāng)真空度劣化到10-1-10-1 Pa時(shí)，雖然擊穿電壓沒(méi)有降低，但滅弧室已不合格。HTZK-IV型真空開(kāi)關(guān)真空度測(cè)試儀采用新型勵(lì)磁線圈，運(yùn)用磁控放電法測(cè)試滅弧室的真空度，不必拆卸滅弧室。同時(shí)采用微機(jī)進(jìn)行同步控制與數(shù)據(jù)采集處理，使滅弧室真空度的現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試靈敏度達(dá)到了10-5Pa。本儀器Z突出的特點(diǎn)是

    更新時(shí)間：2024-05-09

  • ZKD-IV真空開(kāi)關(guān)真空度測(cè)試儀
    ZKD-IV真空開(kāi)關(guān)真空度測(cè)試儀
    真空斷路器是判斷真空管真空度劣化與否的常用方法是工頻耐壓法，這種方法只是能判斷真空度嚴(yán)重劣化的滅弧室。而當(dāng)真空度劣化到10-1-10-1 Pa時(shí)，雖然擊穿電壓沒(méi)有降低，但滅弧室已不合格。HTZK-IV型真空開(kāi)關(guān)真空度測(cè)試儀采用新型勵(lì)磁線圈，運(yùn)用磁控放電法測(cè)試滅弧室的真空度，不必拆卸滅弧室。同時(shí)采用微機(jī)進(jìn)行同步控制與數(shù)據(jù)采集處理，使滅弧室真空度的現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試靈敏度達(dá)到了10-5Pa。本儀器Z突出的特點(diǎn)是

    更新時(shí)間：2024-05-09

  • BOZK-Ⅳ真空開(kāi)關(guān)真空度測(cè)試儀
    BOZK-Ⅳ真空開(kāi)關(guān)真空度測(cè)試儀
    真空斷路器是判斷真空管真空度劣化與否的常用方法是工頻耐壓法，這種方法只是能判斷真空度嚴(yán)重劣化的滅弧室。而當(dāng)真空度劣化到10-1-10-1 Pa時(shí)，雖然擊穿電壓沒(méi)有降低，但滅弧室已不合格。HTZK-IV型真空開(kāi)關(guān)真空度測(cè)試儀采用新型勵(lì)磁線圈，運(yùn)用磁控放電法測(cè)試滅弧室的真空度，不必拆卸滅弧室。同時(shí)采用微機(jī)進(jìn)行同步控制與數(shù)據(jù)采集處理，使滅弧室真空度的現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試靈敏度達(dá)到了10-5Pa。本儀器Z突出的特點(diǎn)是

    更新時(shí)間：2024-05-09

  • KDZK-IV 真空開(kāi)關(guān)真空度測(cè)試儀
    KDZK-IV 真空開(kāi)關(guān)真空度測(cè)試儀
    真空斷路器是判斷真空管真空度劣化與否的常用方法是工頻耐壓法，這種方法只是能判斷真空度嚴(yán)重劣化的滅弧室。而當(dāng)真空度劣化到10-1-10-1 Pa時(shí)，雖然擊穿電壓沒(méi)有降低，但滅弧室已不合格。HTZK-IV型真空開(kāi)關(guān)真空度測(cè)試儀采用新型勵(lì)磁線圈，運(yùn)用磁控放電法測(cè)試滅弧室的真空度，不必拆卸滅弧室。同時(shí)采用微機(jī)進(jìn)行同步控制與數(shù)據(jù)采集處理，使滅弧室真空度的現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試靈敏度達(dá)到了10-5Pa。本儀器Z突出的特點(diǎn)是

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  • HSXZKD-H真空開(kāi)關(guān)真空度測(cè)試儀
    HSXZKD-H真空開(kāi)關(guān)真空度測(cè)試儀
    真空斷路器是判斷真空管真空度劣化與否的常用方法是工頻耐壓法，這種方法只是能判斷真空度嚴(yán)重劣化的滅弧室。而當(dāng)真空度劣化到10-1-10-1 Pa時(shí)，雖然擊穿電壓沒(méi)有降低，但滅弧室已不合格。HTZK-IV型真空開(kāi)關(guān)真空度測(cè)試儀采用新型勵(lì)磁線圈，運(yùn)用磁控放電法測(cè)試滅弧室的真空度，不必拆卸滅弧室。同時(shí)采用微機(jī)進(jìn)行同步控制與數(shù)據(jù)采集處理，使滅弧室真空度的現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試靈敏度達(dá)到了10-5Pa。本儀器Z突出的特點(diǎn)是

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  • ZKD-Ⅱ真空開(kāi)關(guān)真空度測(cè)試儀
    ZKD-Ⅱ真空開(kāi)關(guān)真空度測(cè)試儀
    真空斷路器是判斷真空管真空度劣化與否的常用方法是工頻耐壓法，這種方法只是能判斷真空度嚴(yán)重劣化的滅弧室。而當(dāng)真空度劣化到10-1-10-1 Pa時(shí)，雖然擊穿電壓沒(méi)有降低，但滅弧室已不合格。HTZK-IV型真空開(kāi)關(guān)真空度測(cè)試儀采用新型勵(lì)磁線圈，運(yùn)用磁控放電法測(cè)試滅弧室的真空度，不必拆卸滅弧室。同時(shí)采用微機(jī)進(jìn)行同步控制與數(shù)據(jù)采集處理，使滅弧室真空度的現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試靈敏度達(dá)到了10-5Pa。本儀器Z突出的特點(diǎn)是

    更新時(shí)間：2024-05-09

  • RTZK-V真空開(kāi)關(guān)真空度測(cè)試儀
    RTZK-V真空開(kāi)關(guān)真空度測(cè)試儀
    真空斷路器是判斷真空管真空度劣化與否的常用方法是工頻耐壓法，這種方法只是能判斷真空度嚴(yán)重劣化的滅弧室。而當(dāng)真空度劣化到10-1-10-1 Pa時(shí)，雖然擊穿電壓沒(méi)有降低，但滅弧室已不合格。HTZK-IV型真空開(kāi)關(guān)真空度測(cè)試儀采用新型勵(lì)磁線圈，運(yùn)用磁控放電法測(cè)試滅弧室的真空度，不必拆卸滅弧室。同時(shí)采用微機(jī)進(jìn)行同步控制與數(shù)據(jù)采集處理，使滅弧室真空度的現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試靈敏度達(dá)到了10-5Pa。本儀器Z突出的特點(diǎn)是

    更新時(shí)間：2024-05-09

  • GDZK-IV真空開(kāi)關(guān)真空度測(cè)試儀
    GDZK-IV真空開(kāi)關(guān)真空度測(cè)試儀
    真空斷路器是判斷真空管真空度劣化與否的常用方法是工頻耐壓法，這種方法只是能判斷真空度嚴(yán)重劣化的滅弧室。而當(dāng)真空度劣化到10-1-10-1 Pa時(shí)，雖然擊穿電壓沒(méi)有降低，但滅弧室已不合格。HTZK-IV型真空開(kāi)關(guān)真空度測(cè)試儀采用新型勵(lì)磁線圈，運(yùn)用磁控放電法測(cè)試滅弧室的真空度，不必拆卸滅弧室。同時(shí)采用微機(jī)進(jìn)行同步控制與數(shù)據(jù)采集處理，使滅弧室真空度的現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試靈敏度達(dá)到了10-5Pa。本儀器Z突出的特點(diǎn)是

    更新時(shí)間：2024-05-09

  • DZK-H真空開(kāi)關(guān)真空度測(cè)試儀
    DZK-H真空開(kāi)關(guān)真空度測(cè)試儀
    真空斷路器是判斷真空管真空度劣化與否的常用方法是工頻耐壓法，這種方法只是能判斷真空度嚴(yán)重劣化的滅弧室。而當(dāng)真空度劣化到10-1-10-1 Pa時(shí)，雖然擊穿電壓沒(méi)有降低，但滅弧室已不合格。HTZK-IV型真空開(kāi)關(guān)真空度測(cè)試儀采用新型勵(lì)磁線圈，運(yùn)用磁控放電法測(cè)試滅弧室的真空度，不必拆卸滅弧室。同時(shí)采用微機(jī)進(jìn)行同步控制與數(shù)據(jù)采集處理，使滅弧室真空度的現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試靈敏度達(dá)到了10-5Pa。本儀器Z突出的特點(diǎn)是

    更新時(shí)間：2024-05-09

  • SCZK-4D真空開(kāi)關(guān)真空度測(cè)試儀
    SCZK-4D真空開(kāi)關(guān)真空度測(cè)試儀
    真空斷路器是判斷真空管真空度劣化與否的常用方法是工頻耐壓法，這種方法只是能判斷真空度嚴(yán)重劣化的滅弧室。而當(dāng)真空度劣化到10-1-10-1 Pa時(shí)，雖然擊穿電壓沒(méi)有降低，但滅弧室已不合格。HTZK-IV型真空開(kāi)關(guān)真空度測(cè)試儀采用新型勵(lì)磁線圈，運(yùn)用磁控放電法測(cè)試滅弧室的真空度，不必拆卸滅弧室。同時(shí)采用微機(jī)進(jìn)行同步控制與數(shù)據(jù)采集處理，使滅弧室真空度的現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試靈敏度達(dá)到了10-5Pa。本儀器Z突出的特點(diǎn)是

    更新時(shí)間：2024-05-09

  • ZKZ-V真空開(kāi)關(guān)真空度測(cè)試儀
    ZKZ-V真空開(kāi)關(guān)真空度測(cè)試儀
    真空斷路器是判斷真空管真空度劣化與否的常用方法是工頻耐壓法，這種方法只是能判斷真空度嚴(yán)重劣化的滅弧室。而當(dāng)真空度劣化到10-1-10-1 Pa時(shí)，雖然擊穿電壓沒(méi)有降低，但滅弧室已不合格。HTZK-IV型真空開(kāi)關(guān)真空度測(cè)試儀采用新型勵(lì)磁線圈，運(yùn)用磁控放電法測(cè)試滅弧室的真空度，不必拆卸滅弧室。同時(shí)采用微機(jī)進(jìn)行同步控制與數(shù)據(jù)采集處理，使滅弧室真空度的現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試靈敏度達(dá)到了10-5Pa。本儀器Z突出的特點(diǎn)是

    更新時(shí)間：2024-05-09

  • xuji真空開(kāi)關(guān)真空度測(cè)試儀
    xuji真空開(kāi)關(guān)真空度測(cè)試儀
    真空斷路器是判斷真空管真空度劣化與否的常用方法是工頻耐壓法，這種方法只是能判斷真空度嚴(yán)重劣化的滅弧室。而當(dāng)真空度劣化到10-1-10-1 Pa時(shí)，雖然擊穿電壓沒(méi)有降低，但滅弧室已不合格。HTZK-IV型真空開(kāi)關(guān)真空度測(cè)試儀采用新型勵(lì)磁線圈，運(yùn)用磁控放電法測(cè)試滅弧室的真空度，不必拆卸滅弧室。同時(shí)采用微機(jī)進(jìn)行同步控制與數(shù)據(jù)采集處理，使滅弧室真空度的現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試靈敏度達(dá)到了10-5Pa。本儀器Z突出的特點(diǎn)是

    更新時(shí)間：2024-05-09

  • MEZK-IV真空開(kāi)關(guān)真空度測(cè)試儀
    MEZK-IV真空開(kāi)關(guān)真空度測(cè)試儀
    真空斷路器是判斷真空管真空度劣化與否的常用方法是工頻耐壓法，這種方法只是能判斷真空度嚴(yán)重劣化的滅弧室。而當(dāng)真空度劣化到10-1-10-1 Pa時(shí)，雖然擊穿電壓沒(méi)有降低，但滅弧室已不合格。HTZK-IV型真空開(kāi)關(guān)真空度測(cè)試儀采用新型勵(lì)磁線圈，運(yùn)用磁控放電法測(cè)試滅弧室的真空度，不必拆卸滅弧室。同時(shí)采用微機(jī)進(jìn)行同步控制與數(shù)據(jù)采集處理，使滅弧室真空度的現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試靈敏度達(dá)到了10-5Pa。本儀器Z突出的特點(diǎn)是

    更新時(shí)間：2024-05-09

  • SBZKD-2000真空開(kāi)關(guān)真空度測(cè)試儀
    SBZKD-2000真空開(kāi)關(guān)真空度測(cè)試儀
    真空斷路器是判斷真空管真空度劣化與否的常用方法是工頻耐壓法，這種方法只是能判斷真空度嚴(yán)重劣化的滅弧室。而當(dāng)真空度劣化到10-1-10-1 Pa時(shí)，雖然擊穿電壓沒(méi)有降低，但滅弧室已不合格。HTZK-IV型真空開(kāi)關(guān)真空度測(cè)試儀采用新型勵(lì)磁線圈，運(yùn)用磁控放電法測(cè)試滅弧室的真空度，不必拆卸滅弧室。同時(shí)采用微機(jī)進(jìn)行同步控制與數(shù)據(jù)采集處理，使滅弧室真空度的現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試靈敏度達(dá)到了10-5Pa。本儀器Z突出的特點(diǎn)是

    更新時(shí)間：2024-05-09

  • HVZKD真空開(kāi)關(guān)真空度測(cè)試儀
    HVZKD真空開(kāi)關(guān)真空度測(cè)試儀
    真空斷路器是判斷真空管真空度劣化與否的常用方法是工頻耐壓法，這種方法只是能判斷真空度嚴(yán)重劣化的滅弧室。而當(dāng)真空度劣化到10-1-10-1 Pa時(shí)，雖然擊穿電壓沒(méi)有降低，但滅弧室已不合格。HTZK-IV型真空開(kāi)關(guān)真空度測(cè)試儀采用新型勵(lì)磁線圈，運(yùn)用磁控放電法測(cè)試滅弧室的真空度，不必拆卸滅弧室。同時(shí)采用微機(jī)進(jìn)行同步控制與數(shù)據(jù)采集處理，使滅弧室真空度的現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試靈敏度達(dá)到了10-5Pa。本儀器Z突出的特點(diǎn)是

    更新時(shí)間：2024-05-09

  • ZKY2000 真空開(kāi)關(guān)真空度測(cè)試儀
    ZKY2000 真空開(kāi)關(guān)真空度測(cè)試儀
    真空斷路器是判斷真空管真空度劣化與否的常用方法是工頻耐壓法，這種方法只是能判斷真空度嚴(yán)重劣化的滅弧室。而當(dāng)真空度劣化到10-1-10-1 Pa時(shí)，雖然擊穿電壓沒(méi)有降低，但滅弧室已不合格。HTZK-IV型真空開(kāi)關(guān)真空度測(cè)試儀采用新型勵(lì)磁線圈，運(yùn)用磁控放電法測(cè)試滅弧室的真空度，不必拆卸滅弧室。同時(shí)采用微機(jī)進(jìn)行同步控制與數(shù)據(jù)采集處理，使滅弧室真空度的現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試靈敏度達(dá)到了10-5Pa。本儀器Z突出的特點(diǎn)是

    更新時(shí)間：2024-05-09

  • ZKG2000真空開(kāi)關(guān)真空度測(cè)試儀
    ZKG2000真空開(kāi)關(guān)真空度測(cè)試儀
    真空斷路器是判斷真空管真空度劣化與否的常用方法是工頻耐壓法，這種方法只是能判斷真空度嚴(yán)重劣化的滅弧室。而當(dāng)真空度劣化到10-1-10-1 Pa時(shí)，雖然擊穿電壓沒(méi)有降低，但滅弧室已不合格。HTZK-IV型真空開(kāi)關(guān)真空度測(cè)試儀采用新型勵(lì)磁線圈，運(yùn)用磁控放電法測(cè)試滅弧室的真空度，不必拆卸滅弧室。同時(shí)采用微機(jī)進(jìn)行同步控制與數(shù)據(jù)采集處理，使滅弧室真空度的現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試靈敏度達(dá)到了10-5Pa。本儀器Z突出的特點(diǎn)是

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  • TE3018真空開(kāi)關(guān)真空度測(cè)試儀
    TE3018真空開(kāi)關(guān)真空度測(cè)試儀
    真空斷路器是判斷真空管真空度劣化與否的常用方法是工頻耐壓法，這種方法只是能判斷真空度嚴(yán)重劣化的滅弧室。而當(dāng)真空度劣化到10-1-10-1 Pa時(shí)，雖然擊穿電壓沒(méi)有降低，但滅弧室已不合格。HTZK-IV型真空開(kāi)關(guān)真空度測(cè)試儀采用新型勵(lì)磁線圈，運(yùn)用磁控放電法測(cè)試滅弧室的真空度，不必拆卸滅弧室。同時(shí)采用微機(jī)進(jìn)行同步控制與數(shù)據(jù)采集處理，使滅弧室真空度的現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試靈敏度達(dá)到了10-5Pa。本儀器Z突出的特點(diǎn)是

    更新時(shí)間：2024-05-09

  • GWZK-IV真空開(kāi)關(guān)真空度測(cè)試儀
    GWZK-IV真空開(kāi)關(guān)真空度測(cè)試儀
    真空斷路器是判斷真空管真空度劣化與否的常用方法是工頻耐壓法，這種方法只是能判斷真空度嚴(yán)重劣化的滅弧室。而當(dāng)真空度劣化到10-1-10-1 Pa時(shí)，雖然擊穿電壓沒(méi)有降低，但滅弧室已不合格。HTZK-IV型真空開(kāi)關(guān)真空度測(cè)試儀采用新型勵(lì)磁線圈，運(yùn)用磁控放電法測(cè)試滅弧室的真空度，不必拆卸滅弧室。同時(shí)采用微機(jī)進(jìn)行同步控制與數(shù)據(jù)采集處理，使滅弧室真空度的現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試靈敏度達(dá)到了10-5Pa。本儀器Z突出的特點(diǎn)是

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